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工業(yè)制造行業(yè)解決方案(5)
作者：admin 內(nèi)容來源：本站原創(chuàng) 發(fā)布時間：2016年04月27日 瀏覽量：
工業(yè)制造行業(yè)全面解決方案

光學(xué)材料透射和反射光譜的測定（UV）

UV-NIR分光光度計可精確測量從近紅外區(qū)至紫外區(qū)的寬波長范圍的透射光譜和反射光譜。

在該實例中，UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度計用于測量CD基片的透射光譜和硅片反射光譜。

工業(yè)制造行業(yè)解決方案
CD基片的透射光譜

工業(yè)制造行業(yè)解決方案
硅片的反射光譜

UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度計

工業(yè)制造行業(yè)解決方案

UV-3700可實現(xiàn)大樣品的無損測量，并可在寬波長范圍（從紫外到紅外）內(nèi)測量光譜光度。

在光源處、檢測器及積分球中使用基本不吸收深紫外光（DUV）的材料并用氮氣凈化包括單色器和樣品室在內(nèi)的所有的光路，可以對165至3300nm寬波長范圍的光譜進行測量（使用選配的DUV型）。



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