該分光光度計可滿足從紫外區(qū)至近紅外區(qū)寬波長范圍內(nèi)的測量要求。

該儀器在光源處、檢測器及積分球中使用基本不吸收深紫外光（DUV）的材料，并用氮氣凈化包括單色器和樣品室在內(nèi)的所有的光路，可以對165至3300nm寬波長范圍的光譜進行測量（使用選配的DUV型）。

連續(xù)改變（掃描）激發(fā)波長時，應進行三維測量（測量熒光光譜），以借助通用熒光測量法測量手性。由于激發(fā)光和熒光均需完成掃描，因此，現(xiàn)有的三維測量方法需耗費數(shù)小時。然而，NIR-PL系統(tǒng)采用高靈敏度的InGaAs陣列探測器，無需波長掃描。因此，利用現(xiàn)有方法可在十幾分鐘內(nèi)獲得相同的結(jié)果。